任何產(chǎn)品，在到達我們手中開始使用之前，都會經(jīng)過一系列千錘百煉的可靠性試驗，正是因為有這些試驗，才使得我們購買的產(chǎn)品具有更強可靠性；環(huán)境可靠性的作用就是模擬外界環(huán)境溫度變化，檢驗產(chǎn)品的耐氣候性，確保日常賠償我們的產(chǎn)品能夠跟我們一起經(jīng)受歲月的洗滌。今天就來從星拓環(huán)境合作過的燈具案例中來看一下我們?nèi)粘Ｉ畋貍涞臒艟咝枰龅母叩蜏貨_擊試驗如何做，供用戶參考。

高溫對燈具的影響：

燈具的塑膠外殼無法承受環(huán)境能力，在高低溫沖擊時，LED塑膠外殼容易脆化破壞;

燈管在溫度急劇變化情況下出現(xiàn)燒壞的情況;

照明燈的電路板芯片在冷熱沖擊環(huán)境下容易短路。

試驗方法：

1.將燈具放置在溫度設(shè)定在60℃的高低溫試驗箱中；

2.通過調(diào)壓器將燈具的輸入電壓調(diào)為大額定輸入電壓的1.1倍；

3.接通電源，點燈24H，并觀察燈具是否有損壞、材料受熱變形等異?，F(xiàn)象；

4.點燈測試后，通過繼電器控制燈具在此環(huán)境下進行沖擊測試，測試設(shè)置為：點燈20s、熄燈20s，循環(huán)100次。測試要求：

A.燈具在經(jīng)過高溫高壓測試后，不能發(fā)生表面脫漆、變色、開裂、材料變形等異?，F(xiàn)象；

B.燈具在經(jīng)過溫度沖擊試驗后，不能發(fā)生漏電、點燈不亮等電氣異?，F(xiàn)象。

低溫對燈具的影響：

燈具是一種由多種電子元器件，結(jié)構(gòu)件組成的照明產(chǎn)品,在低溫狀態(tài)下半導體器件，電解電容等性能均會出現(xiàn)變化，所以在器件選型時需要考慮低溫因數(shù)。

低溫對開關(guān)管的影響：

開關(guān)管在低溫環(huán)境下載流子的密度以及活性都會降低,過載保護的啟動點也會因此降低。

低溫對電解電容的影響：

電解電容電解液在低溫環(huán)境下易凍結(jié)（電解液的制作工藝不同，耐低溫的能力有巨大差異），容值降低，失去電容效應(yīng)，無帶載能力，從而使得LED驅(qū)動啟動異常。在工作狀態(tài)下，隨著溫度的降低電容ESR等效串聯(lián)電阻會急劇的增大，電解電容對紋波抑制能力降低，電壓紋波隨之變大。

試驗方法：

1.將燈具放置在溫度設(shè)定在-15℃的高低溫試驗箱中；

2.通過調(diào)壓器將燈具的輸入電壓調(diào)為小額定輸入電壓的0.9倍；

3.接通電源，點燈24H，并觀察燈具是否有損壞、材料受熱變形等異?，F(xiàn)象；

4.點燈測試后，通過繼電器控制燈具在此環(huán)境下進行溫度沖擊試驗，測試設(shè)置為：點燈20s、熄燈20s，循環(huán)100次。測試要求：

A.燈具在經(jīng)過低溫低壓測試后，不能發(fā)生表面脫漆、變色、開裂、材料變形等異常現(xiàn)象；

B.燈具在經(jīng)過溫度沖擊試驗后，不能發(fā)生漏電、點燈不亮等電氣異?，F(xiàn)象。

以上就是星拓環(huán)境為您提供的關(guān)于燈具做高低溫沖擊試驗的方法和目的的知識分享，希望對您有幫助。有更多試驗箱問題，可與廠家聯(lián)系，星拓環(huán)境是一家專注于研發(fā)、設(shè)計、制造全系列氣候環(huán)境試驗設(shè)備及行業(yè)整體解決方案的高新技術(shù)企業(yè)，核心技術(shù)人員專注于氣候及環(huán)境試驗設(shè)備行業(yè)30余年，可為您提供一對一專業(yè)的技術(shù)咨詢與指導。