高加速壽命試驗(yàn)箱(Highly Accelerated Life Testing,簡(jiǎn)稱HALT試驗(yàn))是一種利用快速高、低溫變換的震蕩體系來揭示電子和機(jī)械裝配件設(shè)計(jì)缺陷和不足的過程。HALT的目的是在產(chǎn)品開發(fā)的早期階段識(shí)別出產(chǎn)品的功能和破壞極限,從而優(yōu)化產(chǎn)品的可靠性。
HALT試驗(yàn)的目的是在產(chǎn)品開發(fā)的早期階段識(shí)別出產(chǎn)品的功能和破壞極限,從而優(yōu)化產(chǎn)品的可靠性。其優(yōu)點(diǎn)如下:
a.消除設(shè)計(jì)缺陷,提高設(shè)計(jì)可靠性,確保能獲得早期高可靠性,使設(shè)備具有高的外場(chǎng)可靠性;
b.減少鑒定試驗(yàn)時(shí)的故障,經(jīng)過HALT的產(chǎn)品,鑒定試驗(yàn)已不重要,僅是一種形式而已;
c.降低壽命周期費(fèi)用;
d.能確切了解工作極限和損壞極限,為制定HASS方案,確定應(yīng)力量級(jí)提供依據(jù)。