CN
EN
廣東星拓環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備科技有限公司
電子元器件使用高溫老化箱測試的注意事項(xiàng)
發(fā)表時(shí)間：2022-11-02 網(wǎng)址：http://2017333.com/ 編輯：admin
高溫老化箱可對電子元器件施加高溫、高濕和一定的驅(qū)動電流進(jìn)行加速老化并通過試驗(yàn)結(jié)果評估電子器件是否存在表面玷污、引線焊接不良、溝道漏電等一系列缺陷，并以此為依據(jù)對電子元器件的工作條件進(jìn)行調(diào)整和可靠性計(jì)算。
高溫老化箱可執(zhí)行的加速老化試驗(yàn)項(xiàng)目
1.高溫加速老化是加速老化試驗(yàn)中最基本的環(huán)境應(yīng)力式高溫，在此過程中應(yīng)定期對選定參數(shù)進(jìn)行檢測，直至退化超過壽命終止即可。
2.恒溫老化試驗(yàn)運(yùn)行方式與高溫老化運(yùn)行是相似的，在此過程中需要明確樣品數(shù)量以及允許失效的數(shù)量范圍。
3.溫度循環(huán)的加速老化試驗(yàn)一般來說不是為了引起特定性能參數(shù)的退化而是提供封裝在組價(jià)里的光路長期機(jī)械穩(wěn)定性的附加說明。
電子元器件老化測試注意事項(xiàng)
1.老化設(shè)備應(yīng)具備良好的防自激振蕩設(shè)施。
2.試驗(yàn)過程如果需要進(jìn)行施加電壓應(yīng)從0開始緩慢增加，去電壓時(shí)也應(yīng)緩慢減小，若違規(guī)操作瞬間脈沖會對器件造成損壞。
3.老化試驗(yàn)結(jié)束后應(yīng)在規(guī)定時(shí)間范圍內(nèi)進(jìn)行數(shù)據(jù)測量，若超時(shí)有些超差的參數(shù)會恢復(fù)到原來的數(shù)值。
4.為了能夠使得晶體管在最高溫下老化，應(yīng)該準(zhǔn)確對晶體管熱阻進(jìn)行測量。
以上就是電子元器件在進(jìn)行高溫老化試驗(yàn)時(shí)應(yīng)該注意的事項(xiàng)，希望能夠?qū)Υ蠹矣兴鶐椭?/span>
星拓作為國家高新技術(shù)企業(yè)，在環(huán)試設(shè)備行業(yè)技術(shù)沉淀20+年，國內(nèi)外2600+長期合作客戶，長期從事低溫試驗(yàn)箱，高溫試驗(yàn)箱，恒溫恒濕試驗(yàn)箱，高低溫試驗(yàn)箱，冷熱沖擊試驗(yàn)箱，快速溫變試驗(yàn)箱，低氣壓試驗(yàn)箱，振動試驗(yàn)臺，高低溫振動三綜合試驗(yàn)箱，鹽霧試驗(yàn)箱，沙塵試驗(yàn)箱，IP防水試驗(yàn)箱，機(jī)械沖擊試驗(yàn)臺，碰撞試驗(yàn)臺，跌落試驗(yàn)機(jī)，老化試驗(yàn)箱等可靠性測試設(shè)備的研發(fā)和生產(chǎn)。若有任何高溫老化箱等的相關(guān)需求，可隨時(shí)聯(lián)系廣東星拓環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備廠家進(jìn)行咨詢，星拓工程團(tuán)隊(duì)為您提供安全、可靠和易于操作的測試設(shè)備技術(shù)方案，助力驗(yàn)證產(chǎn)品品質(zhì)提升。
